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泰思肯VEGA鎢燈絲掃描電子顯微鏡，采用全新的 Essence™ 電鏡操控軟件系統，將掃描形貌圖像與元素實時分析集成于同一個掃描窗口中。這種組合大大簡化了樣品表面形貌的采集及含元素的數據分析工作，使得第四代 VEGA SEM 成為質量控制、故障分析和研究實驗室中常規材料等檢測提供更高效的分析的解決方案。

泰思肯MIRA通用分析型高分辨場發射掃描電鏡 TESCAN MIRA 推出的第四代高性能掃描電子顯微鏡，配置有高亮度肖特基場發射電子槍，在TESCAN 的 Essence™ 操作軟件的同一個窗口中實現了 SEM 成像和實時元素分析。這種結合大大簡化了從樣品中獲取形貌和元素數據的過程，從而使得MIRA 成為質量控制、失效分析和實驗室常規材料檢測的有效分析解決方案。

MAGNA新一代超高分辨場發射掃描電鏡

泰思肯 新一代超高分辨場發射掃描電鏡 全新設計的CLARA超高分辨場發射掃描電鏡可以提供的圖像質量，具有*的擴展分析能力，能夠滿足現今工業研發和科研的所有需求，不僅適用于的納米分析應用，也給操作者帶來舒適、高效的使用體驗。